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x射线衍射仪、x射线能谱仪

中国科学院广州化学研究所分析测试中心

事业部--高工--

产品型号: x'pert pro

生产厂家:荷兰帕纳科公司panalytical b.v.（原飞利浦分析仪器）

仪器介绍:x'pert pro x射线衍射仪采用陶瓷χ光管、dops直接光学定位传感器定位和Zui优化的控制台及新型窗口软件。采用模块化设计，可针对不同的要求采用Zui优的光学系统，从而得到的实验数据，达到Zui高的实验效率。

主要附件：高、低温附件（室温至1600°；-193°~450°）；多功能样品台（可放直径100mm，高度100mm尺寸内的Zui大载重1kg的样品）；薄膜附件。

技术参数:

· χ射线发生器： Zui大功率：3kwZui大管压：60kvZui大管流：60ma

· 陶瓷χ光管： Zui大功率：2.2kw（cu靶）Zui大管压：60kvZui大管流：55ma

· 测角仪： 扫描方式：θ/θ或2θ/θ模式角度重现性：±0.0001°(空载)

· 探测器： 正比探测器：99%线性范围1×106cps，Zui大背景≤0.2cps ；半导体阵列探测器：Zui大计数率4×106cps，99%线性范围1×106cps，Zui大背景≤0.1cps

技术特点:

· 预校准光路全模块化,不同光路系统及各种样品台等附件均可以在几分钟内实现高精度的更换。x'celerator超能探测器接收效率、灵敏度、稳定性高。配备相应软件及pdf-2国际粉末衍射数据库，可进行物相定性定量分析，点阵参数测定，晶粒大小/微观应力分析，残余应力分析及薄膜分析。

应用范围:广泛应用于物理、化学、药物学、冶金学、高分子材料、生命科学及材料科学。可以分析黏土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料、超导材料、纳米材料、超晶格材料和磁性材料的物相鉴定，材料可以是单晶体、多晶体、纤维、薄膜等片状、块状、粉末状固体。

产品型号: genesis能谱仪

生产厂家:美国伊达克斯有限公司edax inc.

仪器介绍:genesis能谱仪是高性能能谱仪的代表，其秉承了edax公司phoenix能谱仪指标高、性能好、寿命长，使用方便的特点。edax能谱仪已应用在环境扫描电镜、场发射扫描电镜和透射电镜上，并且可以同edax公司的oim（电子背散射衍射取向成像分析系统）构成一体化分析系统。

技术参数:

· 探头分辨率优于129ev,峰背比优于20000:1

· 检测元素范围be4 - u92

· Zui大计数率500,000cps

· Zui大图象采集分辨率8192x6400象素

· Zui大面分布图采集分辨率2048x1600象素

技术特点:

· 探头指标高，性能好，寿命长。

· 全新32位软硬件系统，工作可靠，效率高。

· 具有操作引导的集成式界面，使用直观方便。

· 具有多种专有技术软件，分析精度高。

· 软件种类及功能丰富，且具有报告生成系统。

应用范围:主要用于各类样品的化学元素成分分析。可以获得样品中各种元素的含量和分布的信息。