TEM mapping 测试主要测试什么？对样品有什么要求呢？-清纯校花被屈辱打开双腿_丝袜美女被啪啪不带套漫画メイリン モデルコレクション メ

透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。而mappin可以直观的显示出来各元素的分布情况。在飞秒检测做TEM mapping测试对样品有以下几点要求：（1）粉末、液体样品均可，需要离子减薄、双喷、FIB、切片制样（2）强磁性样品要求颗粒大小不超过200纳米（3）样品是否含有磁性