用户问的是陶瓷材料（特别是电子/装置瓷如Al₂O₃、TiO₂、BaTiO₃系等）的介质损耗角正切值（tanδ，dissipationfactor）及介电常数（εᵣ）检测，这属于电子陶瓷电学性能测试，国内现行标准为 GB/T5594.2-1985（2004复审）《电子陶瓷材料 介质损耗角正切值和介电常数的测试方法》，现行有效；也可按 GB/T1409-2006《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波长在内）下介电性能试验方法》 进行。
下面给你整理检测要点。
标准
名称
适用说明
GB/T 5594.2-1985(2004复审)
电子陶瓷材料 介质损耗角正切值和介电常数的测试方法
专用于电子结构瓷/装置瓷（Al₂O₃瓷、滑石瓷、钛酸镁瓷等），频率通常 1MHz（可扩展 1kHz～10GHz 依仪器）
GB/T 1409-2006 / IEC 60250
测量电气绝缘材料…介电性能试验方法
通用固体绝缘/陶瓷，可测 εᵣ 和 tanδ，频率覆盖工频～射频
GB/T 5593-2018
电子元器件结构瓷材料（引用 GB/T 5594.2 作要求）
产品标准，检测按 GB/T 5594.2
EIA-198 / IPC-TM-650 2.5.5.5
高频介质性能测试（行业参考）
高频/微波陶瓷用谐振腔法（Hakki-Coleman 等），>1GHz
项目
要求/说明
试样制备
● 圆片形：直径 D=Φ30～50mm，厚度 d=1～3mm（厚径比1:10～1:20），两面被银浆/烧渗银电极或蒸镀金/铝电极，电极覆盖整个表面（或留边缘间隙防沿面放电）
● 表面粗糙度 Ra≤0.8μm，无气孔裂纹；每组 ≥3 片
电极要求
无孔、无氧化、低接触电阻；高频测试推荐烧渗 Ag 电极或溅射 Au；极板接触式（带弹簧压）也可但引入接触误差
测试频率
常规 1MHz ±10%（装置瓷验收指定）；高频微波陶瓷可测 1kHz、10kHz、100kHz、10MHz等多频点给频响曲线
测试温度
通常 (20±2)℃ 或 (25±1)℃，必要时测温度系数（−55～+125℃ 步进）
仪器
高精度 Q 表（ Factor Meter）、阻抗分析仪或 LCR 表（≥1MHz，基本精度 ±0.00005tanδ），校准开路/短路/负载
结果计算
● 介电常数 εᵣ = C·d / (ε₀·A)（C 为实测电容，A 为电极面积，ε₀=8.854×10⁻¹² F/m）
● 介质损耗角正切 tanδ = 1/Q（Q 为品质因数，仪器直接读出）
精度要求
tanδ ≤0.001 时仪器分辨需达 ±0.00002～0.00005；εᵣ 测三次取均值，平行样偏差 ≤±2%
陶瓷材料
εᵣ (1MHz)
tanδ (×10⁻⁴)
备注
95% Al₂O₃ 瓷
8.6～9.5
≤3～5
装置瓷典型
99% Al₂O₃ 瓷
9.8～10.2
≤2～3
高纯
滑石瓷（MgO·SiO₂系）
5.5～7.0
≤5～10
低介低损
堇青石瓷
4.5～5.5
≤10～20
—
TiO₂ 介质瓷
80～100
10～50
高 εᵣ 较高 tanδ
BaTiO₃ 基 MLCC 瓷粉（块体）
1000～3000+
20～200
铁电，频率温度敏感
AlN 基板（高纯）
8.5～9.0
≤1～3
高热导
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